器件失效中EOS/ESD失效率占30%~40%，而高靜電敏感的器件EOS/ESD失效率高達(dá)60%左右。

高精度敏感器件失效原因排序：

大量的靜電荷在存在電勢(shì)差的物體（人或機(jī)器）與產(chǎn)品之間快速傳遞，短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生很大的電流（遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)產(chǎn)品可以承受的電流），重則損毀電路，造成產(chǎn)品不能使用；輕則使電路過(guò)熱收到損傷，影響產(chǎn)品的壽命和可靠性。

靜電損傷有兩種形式：

硬損傷：又稱“突發(fā)性完全失效”、“一次性損壞”，損傷后器件直接不能工作，此種損傷約占靜電損傷的10%；

軟損傷：又稱“潛在性緩慢失效”、“多次損傷累積后失效”，此種損傷減弱了器件或者單板的性能，單仍能通過(guò)測(cè)試，單板或器件的特性變差，最終失效，此種損傷約占靜電損傷的90%。

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