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2014-09-23
如何對器件進行靜電擊穿檢測呢?一有幾種檢測的辦法:
一、用電子顯微鏡或掃描電子顯微鏡(SEM)觀察
二、光輻射法
用顯微鏡在昏暗的視野下進行觀察,同時,將結(jié)區(qū)電壓慢慢地增加,這樣,當結(jié)區(qū)發(fā)生擊穿時,在擊穿的地萬便會發(fā)光。這是由于在結(jié)區(qū)的電子與空穴復(fù)合時所釋放出的能量以光子的形式輻射出來了。
三、選擇性化學(xué)腐蝕法
這是一種使用易于腐蝕si、而難于腐蝕SiO2的液體來對形成氧化膜的試樣進行腐蝕的方法。如果在氧化膜中存在有缺陷,則通過這個缺陷,si就會被腐蝕,便能觀察到特有的腐蝕坑,這樣,便可對缺陷進行評估。
四、利用液晶觀察熱點
因靜電放電而產(chǎn)生的熱擊穿,可利用向列型液晶來觀察熱點的位置,這是一種比較簡便的萬法。
五、EBIC法
電子束感應(yīng)電流法(簡稱EBIC法)是測量由于掃描電子顯微鏡電子束的照射,在半導(dǎo)體中形成的電子空穴對引起的電流的方法。這是一種非破壞性的實驗方法,可以了解在表面之下的電特性和物理特性。
六、電壓對比法
電壓對比法與前面的EBIC法類似。利用這種方法的電子束探針,可以代替以往的鎢探針,它是一種分析故障的高分辨率的探針。
七、EBEGC法
電子束增強選通電流法(簡稱EBEGC法),這是一種將二次電子束與電子束引起的感應(yīng)電流像疊加起來進行利用的一種方法。這種方法可以看作是EBIC法與電壓對比法二者的合并。
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